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美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判

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曾陳明汝

美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判

[NT 42944] Record Type:	[NT 1579] Language materials, printed : [NT 40817] monographic
[NT 47348] Title Information:	兼與中國商標制度為比較分析與批判
[NT 47261] Author:	曾陳明汝,
[NT 47351] Place of Publication:	台北市
[NT 47263] Published:	三民書局;
[NT 47352] Year of Publication:	1978[民67]
[NT 47264] Description:	206面20公分;

美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判
曾陳, 明汝

美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判 / 曾陳明汝著 - 台北市 : 三民書局, 1978[民67]. - 206面 ; 20公分.
附錄:美國商標法案.

美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判
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